Установки контроля микроразмеров и координат топологии фотошаблонов
Этот класс оборудования предназначен для контроля критических размеров и координат топологических элементов, расположенных на фотошаблонах.
Установки предназначены для работы в чистых помещениях фотошаблонного производства.
Применение данного класса оборудования позволяет дать однозначную оценку пригодности комплекта фотошаблонов для производства микросхем.
Для получения более подробной информации по модельному ряду установок контроля микроразмеров и координат топологии фотошаблонов свяжитесь с нами:
Отдел маркетинга:
|
Телефон: |
+375 17 223 71 28, |
|
E-mail: |
- Приёмная
