Установки автоматического контроля топологии фотошаблонов
С повышением технологического уровня полупроводникового производства качество фотошаблона можно определить только с помощью специализированных контрольных систем- дефекты изделия невидимы ввиду микро- и наноразмеров, ощутить их невозможно невооруженным глазом и даже вооруженным, это "глаза" технологов и разработчиков, только наличие этого оборудования позволит увидеть и решить технологические проблемы и значительно сократить сроки освоения и внедрения.
Понять проблемы технологических процессов изготовления изделия - это значит сделать изделие бездефектным. Вот такую критическую роль в производстве фотошаблонов играют оптические системы и микроскопы.
Для получения более подробной информации по модельному ряду установок контроля топологии фотошаблонов свяжитесь с нами:
Отдел маркетинга:
|
Телефон: |
+375 17 223 71 28, |
|
E-mail: |
- Приёмная
